2014年注评《机电设备评估基础》知识点：裂纹的无损探伤法

对设备零部件裂纹的检查，主要采用无损探测法。

利用无损探测技术不仅能发现机件的裂纹，以及腐蚀、机械性能超差等变化，而且还可以根据机件损伤的种类、形状、大小、产生部位、应力水平、应力方向等信息预测损伤或缺陷发展的趋势，以便及时采取措施，排除隐患。

有多种无损探测法供选用，如目视——光学检测法、渗透探测法、磁粉探测法、射线探测法、超声波探测法、声发射探测法、涡流探测法等。

（一）目视——光学检测法

对于封闭结构内部不能直接观察的零件，主要使用工业内窥镜进行目视——光学检测。

（二）渗透探测法

使着色渗透液或荧光渗透液渗入机件表面开口的裂纹内，然后清除表面的残液，用吸附剂吸出裂纹内的渗透液，从而显示出缺陷图像的一种检验方法。

（三）磁粉探测法

根据探测漏磁场方式的不同，可将磁性探测法分为磁粉探测法、探测线圈法、磁场测定法和磁带记录法。

磁粉探测法所用设备简单，操作方便，检测灵敏度较高，适用于各种形状的钢铁机件，这种探测法可以发现铁磁材料表面和近表面的裂纹，以及气孔、夹杂等缺陷。其缺点是这种探测法不能探测缺陷的深度。

（四）射线探测法：χ射线和γ射线。

主要用来探测机件内部的气孔、夹渣、铸造孔洞等立体缺陷，当裂纹方向与射线平行时也能被探测出来。

优点是探测的图像较直观，对缺陷尺寸和性质的判断比较容易，而且探测结果可以记录下来作为诊断档案资料长期保存。缺点是，当裂纹面与射线近于垂直时就难以探测出来，对微小裂纹的探测灵敏度低，探测费用较高，射线对人体有害。

（五）超声波探测法。

可以探测垂直于超声波的金属和非金属材料的平面状缺陷。

优点是可探测的厚度大、检测灵敏度高、仪器轻便便于携带、成本低，可实现自动检测，并且超声波对人体无害。其缺点是探测时有一定的近场盲区、探测结果不能记录、探测中采用的耦合剂易污染产品等。

（六）声发射探测法。

基本原理是物体在外部条件（如力、热、电、磁等）作用下会发声，根据物体的发声推断物体的状态或内部结构的变化。 动态检测、在加载或运行状态下进行；裂纹主动参与，提供裂纹活动的信息；灵敏度高、覆盖面大、不会漏检；但是，不能反应静态缺陷情况。

（七）涡流探测法。

机件中存在损伤时，被监测机件表面的涡流将发生改变，相应的涡流磁场也将改变。

适用于导电材料表面或近表面探伤；灵敏度高，可自动显示报警；非接触式，可用于高温测量；可用于显示、记录和报警，并可估算缺陷的位置和大小。

不足：深层缺陷难以探测、影响因素多、存在边角效应。